坐標(biāo)測量是一種用于測量零件或部件的幾何尺寸、形狀和相互位置的測量方法，通過測量空間任意的點(diǎn)、線、面以及相互位置，獲得被測量幾何型面上各測點(diǎn)的幾何坐標(biāo)尺寸，再由這些點(diǎn)的坐標(biāo)值經(jīng)過數(shù)學(xué)運(yùn)算求出被測零部件的幾何尺寸和形狀位置誤差。經(jīng)過數(shù)十年的發(fā)展，坐標(biāo)測量從原理上來看，已經(jīng)從傳統(tǒng)的接觸式測量擴(kuò)展到非接觸式測量以及復(fù)合式測量。

　　接觸式測量

　　接觸式測量是指在測量過程中測量工具與被測工件表面直接接觸而獲得測點(diǎn)位置信息的測量方法。目前常見的接觸測量有三坐標(biāo)測量機(jī)。

　　三坐標(biāo)測量機(jī)是由三個(gè)帶有光柵尺的坐標(biāo)軸組成，當(dāng)測頭在測量過程中移動時(shí)，由軟件將走過的光柵格數(shù)根據(jù)光柵的分辨率記錄并轉(zhuǎn)化為長度值，然后由數(shù)據(jù)處理軟件進(jìn)行相應(yīng)的數(shù)學(xué)運(yùn)算，求出被測點(diǎn)的位置以及被測幾何元素的參數(shù)，如圓的半徑、直徑和圓心位置等。

　　非接觸式測量

　　非接觸式測量是指在測量過程中測量工具與被測工件表面不發(fā)生直接接觸而獲得測點(diǎn)信息的測量方法。目前常用的非接觸測量方法包括：激光掃描、影像測量、照相測量和工業(yè) CT 掃描等。

　　激光掃描是近二十年發(fā)展起來的一項(xiàng)新的測量工藝，其原理是由半導(dǎo)體激光器發(fā)出的激光通過聚光透鏡在被測曲面上結(jié)成光點(diǎn)并反射，光敏元件（如 PSD）接收其散射光，根據(jù)其在 PSD 上的位置，即可測出被測點(diǎn)的空間坐標(biāo)。

　　影像測量是由光學(xué)放大系統(tǒng)對被測物體進(jìn)行放大，經(jīng)過 CCD 攝像系統(tǒng)采集影像特征并送入計(jì)算機(jī)后，高效地檢測各種復(fù)雜精密零部件的輪廓和表面形狀尺寸、角度及位置，進(jìn)行微觀檢測與質(zhì)量控制。

　　照相測量是指利用相機(jī)對物體多個(gè)角度測量得到圖像信息，再根據(jù)空間物體投影原理，利用物體表面的標(biāo)志點(diǎn)信息對物體進(jìn)行三維空間位置的換算，進(jìn)而求出物體表面標(biāo)志點(diǎn)的三維信息。

　　工業(yè) CT 掃描是用計(jì)算機(jī)斷層成像技術(shù)指應(yīng)用于工業(yè)中的核成像技術(shù)。其基本原理是依據(jù)輻射在被檢測物體中的減弱和吸收特性。同物質(zhì)對輻射的吸收本領(lǐng)與物質(zhì)性質(zhì)有關(guān)。所以，利用放射性核素或其他輻射源發(fā)射出的、具有一定能量和強(qiáng)度的 X 射線或 γ 射線，在被檢測物體中的衰減規(guī)律及分布情況，就有可能由探測器陳列獲得物體內(nèi)部的詳細(xì)信息，最后用計(jì)算機(jī)信息處理和圖像重建技術(shù)，以圖像形式顯示出來。

　　復(fù)合式測量

　　復(fù)合式測量是指在同一個(gè)測量系統(tǒng)上集成兩個(gè)以上的測量工藝或方法，常見的復(fù)合式測量機(jī)有三坐標(biāo)測量機(jī)與激光掃描的集成、三坐標(biāo)測量機(jī)與圖像測量的集成，以及上述三種測量工藝的集成等。復(fù)合式測量系統(tǒng)的優(yōu)點(diǎn)是利用同一臺測量機(jī)，可以測量一個(gè)零件的不同特征，從而使測量的結(jié)果更準(zhǔn)確，效率更高，并節(jié)約機(jī)器的購置成本。

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